INSPEKTION AN PAKET VUN ZW SERIE Schweess DIODE
Testmethoden an Inspektiounsregelen
1. Batch fir Batch Inspektioun (Grupp A Inspektioun)
All Charge vu Produkter soll no Table 1 iwwerpréift ginn, an all Elementer an Table 1 sinn net-zerstéierend.
Dësch 1 Inspektioun pro Batch
| Grupp | InspektiounArtikel | Inspektioun Method | Critère | AQL (Ⅱ) |
| A1 | Ausgesinn | Visuell Inspektioun (ënner normal Beliichtung a Visiounsbedéngungen) | Logo ass kloer, Uewerflächbeschichtung a Plackéierung si fräi vu Peeling a Schued. | 1.5 |
| A2a | Elektresch Charakteristiken | 4.1(25℃), 4.4.3(25℃) an JB/T 7624—1994 | Polaritéit ëmgedréint:VFM> 10 USL IRRM> 100 USL | 0,65 |
| A2b | VFM | 4.1(25℃) an JB/T 7624—1994 | Plainte un d'Ufuerderunge | 1.0 |
| IRRM | 4.4.3 (25℃,170℃) an JB/T 7624—1994 | Plainte un d'Ufuerderunge | ||
| Notiz: USL ass de maximale Limitwäert. | ||||
2. Periodesch Inspektioun (Grupp B a Grupp C Inspektioun)
Geméiss Table 2, sollten déi finaliséiert Produkter an der normaler Produktioun op d'mannst eng Partie vu Grupp B a Grupp C all Joer iwwerpréift ginn, an d'Inspektiounsartikele markéiert mat (D) sinn destruktiv Tester.Wann d'initial Inspektioun onqualifizéiert ass, kann zousätzlech Proben no Unhang Table A.2 nei iwwerpréift ginn, awer nëmmen eemol.
Tabell 2 Periodesch Inspektioun (Grupp B)
| Grupp | InspektiounArtikel | Inspektioun Method | Critère | Sampling Plang | |
| n | Ac | ||||
| B5 | Temperatur Cycling (D) gefollegt vum Versiegelung |
| Miessung nom Test:VFM≤1.1 USL IRRM≤2USL net Leckage | 6 | 1 |
| CRRL | Gitt kuerz déi relevant Attributer vun all Grupp, de VFM an echRRMWäerter virum an nom Test, an der Testkonklusioun. | ||||
3. Identifikatiounsinspektioun (Grupp D Inspektioun)
Wann d'Produkt finaliséiert an an d'Produktiounsbewäertung gesat gëtt, zousätzlech zu den A, B, C Gruppinspektiounen, sollt den D Grupp Test och no Table 3 gemaach ginn, an d'Inspektiounsartikele markéiert mat (D) sinn destruktiv Tester.Normal Produktioun vu finaliséierte Produkter soll op d'mannst eng Partie vu Grupp D all dräi Joer getest ginn.
Wann d'initial Inspektioun net klappt, kann zousätzlech Proben no Appendix Table A.2 nach eng Kéier iwwerpréift ginn, awer nëmmen eemol
Dësch 3 Identifikatioun Test
| No | Grupp | InspektiounArtikel | Inspektioun Method | Critère | Sampling Plang | |
| n | Ac | |||||
| 1 | D2 | Thermesch Zyklus Lasttest | Zyklus Zäiten: 5000 | Miessung nach Test: VFM≤1.1 USL IRRM≤2USL | 6 | 1 |
| 2 | D3 | Schock oder Schwéngung | 100g: Halt 6ms, Hallefsinuswelleform, zwou Richtungen vun 3 géigesäiteg senkrecht Achsen, 3 Mol an all Richtung, insgesamt 18 Mol.20g: 100~2000Hz, 2h vun all Richtung, Ganzen 6h. | Miessung nach Test: VFM≤1.1 USL IRRM≤2USL | 6 | 1 |
| CRRL | Gitt kuerz déi relevant Attributdaten vun all Grupp, de VFM , IRRMan echDRMWäerter virum an nom Test, an der Testkonklusioun. | |||||
Markéierung a Verpakung
1. Mark
1.1 Mark op de Produit enthalen
1.1.1 Produit Zuel
1.1.2 Terminal Identifikatioun Mark
1.1.3 Firma Numm oder Mark
1.1.4 Inspektioun Lot Identifikatioun Code
1.2 Logo op de Kartong oder befestegt Instruktioun
1.2.1 Produit Modell an Norm Zuel
1.2.2 Firma Numm an logo
1.2.3 Fiichtegkeet-Beweis a Reen-Beweis Schëlder
1.3 Package
Produit Verpakung Ufuerderunge sollen mat Gewalt Reglementer oder Client Ufuerderunge entspriechen
1.4 Produit Dokument
De Produit Modell, Ëmsetzung Standard Zuel, speziell elektresch Leeschtung Ufuerderunge, Erscheinung, etc. sollen am Dokument uginn ginn.
DéiSchweißdiodeproduzéiert vum Jiangsu Yangjie Runau Semiconductor gëtt wäit an der Resistenzschweißer, mëttlerer an héijer Frequenz Schweessmaschinn bis 2000Hz oder méi ugewannt.Mat enger ultra-niddereg Forward Peak Volt, ultra-niddereg thermesch Resistenz, modernste Fabrikatiounstechnologie, exzellente Substitutiounsfäegkeet a stabiler Leeschtung fir weltwäit Benotzer, ass d'Schweißdiode vum Jiangsu Yangjie Runau Semiconductor dee vun den zouverlässegsten Apparater vu China Kraaft semiconductor Produiten.